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事業継続力強化計画


平成24年度西宮市優良事業所顕彰受賞


六甲電子株式會社

郵政編號: 663-8105
兵庫縣西宮市中島町8-5



加盟団体

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NEDIA

SiCアライアンス

SiC及び関連ワイドギャップ半導体研究会

パワーデバイス・イネーブリング協会

SSL GlobalSign Site Seal


▼ 加工技術紹介

影響半導體特性和性能的矽晶圓的減薄和拋光技術。
我們以高精度的加工技術進行開發、改進、更新和制造。
另外,通過開發和批量生產諸如MEMS等特殊晶圓的减薄和拋光,可以滿足各種各樣對於半導體制造的需求。

■ 减薄技術

减薄技術 實施高精度減薄,避免厚度不均。根據產品的條件,從種類豐富的減薄機中選擇最適當的減薄機進行加工。
試作晶圓的厚度根據支撐方法/直徑尺寸而不同,可以減薄到15μm,量產晶圓雖然根據直徑不同而不同,但加工厚度可以達到100μm以下。

■ 拋光技術
拋光技術 對減薄後在表面上有輕微凸凹的矽片進行拋光。
進行慎重且迅速的拋光,以避免影響表面性能。為了避免變形和刮擦,需要高精度加工。

■ MEMS技術
MEMS技術 對於開孔/cavity構造/矽穿孔/非圓形等晶圓、SOI、GWSS晶圓等,採用MEMS(微電子機械系統),可以使用減薄和拋光的一條龍式加工。

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